MMM - Umgekehrte Zuordnung - Umkehrfunktion
Der Begriff der umgekehrten Zuordnung steht im Mittelpunkt. Mit der graphischen Darstellung von Zuordnung und umgekehrter Zuordnung wird ein explorativer Zugang ermöglicht.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Ewald Bichler
Fach: Mathematics
MMM - Flächeninhalt eines Dreiecks
Bei einem Dreieck mit vorgegebenem Flächeninhalt kann z.B. der Punkt C nur auf einer Parallelen zur Seite c bewegt werden. Damit wird die Formel für den Flächeninhalt visualisiert.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Hildegard Urban-Woldron
Fach: Mathematics
MMM - Die allgemeine Sinusfunktion
Die allgemeine Sinusfunktion wird mit Hilfe des Funktionenplotters dargestellt und durch Abänderungen des Funktionsterms wird der Einfluss der Änderung auf den Graphen sichtbar gemacht.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Berthold Meyer
Fach: Mathematics
MMM - Symmetrie zum Koordinatensystem
Es wird sowohl die Symmetrie zur y-Achse als auch die Symmetrie zum Ursprung visualisiert. Die Beziehungen „f(-x) = f(x)“ und „f(-x) = -f(x)“ kann eigentätig entdeckt werden.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Frank Fritsche
Fach: Mathematics
MMM - Indirekte Proportionalität
Die indirekte Proportionalität wird entdeckt über eine Funktion die keine lineare oder quadratische Funktion ist.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Berthold Meyer
Fach: Mathematics
Die Extremwertaufgabe des Abstandes eines Punktes von einer Geraden wird graphisch und symbolisch gelöst.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Ewald Bichler
Fach: Mathematics
Ohne Verwendung einer Programmiersprache wird mit der Applikation Lists&Spreadsheet ein Verfahren erzeugt, mit dem Nullstelle gefunden werden können.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Ewald Bichler
Fach: Mathematics
Es wird die Methode der linearen Regression gezeigt. Dabei wird davon ausgegangen, dass ein linearer Zusammenhang zwischen der Körper- und der Schuhgröße einer Person besteht.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Hildegard Urban-Woldron
Fach: Mathematics
Die graphische Auftragung der Tangentensteigungen in einem Punkt eines Funktionsgraphen liefert den Übergang von der lokalen Änderungsrate einer Funktion an einer Stelle zur Ableitungsfunkt…
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Frank Fritsche
Fach: Mathematics
MMM - Direkte Proportionalität
Die direkte Proportionalität wird darüber hergeleitet, dass die Wertepaare entsprechender Punkte liegen alle auf einer Ursprungsgeraden mit der Steigung y/x (Quotientengleichheit).
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Berthold Meyer
Fach: Mathematics
Die Untersuchung der Reflexionseigenschaften an einer Parabel wird genutzt, um die Möglichkeiten der Darstellung des geometrischen Ortes eines Objektes zu veranschaulichen.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Hubert Langlotz
Fach: Mathematics
MMM - Scheitelpunktgleichung der Parabel
Die Scheitelpunktform des Funktionsterms einer Parabel kann mit TI-Nspire™ entdeckend gewonnen werden.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Berthold Meyer
Fach: Mathematics
Probleme der Wahrscheinlichkeitsrechnung werden so modelliert, dass diese durch Simulation experimentell bearbeitet werden können.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Hubert Langlotz
Fach: Mathematics
Es wird die Überprüfung der Vermutung gezeigt, dass alle Dreiecke genau dann rechtwinklig sind, wenn ein Dreieckspunkt auf dem Halbkreis über einer Dreiecksseite liegt.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Wilfried Zappe
Fach: Mathematics
Mithilfe eines Funktionenplotters können Graphenpunkte, auch solche mit besonderen Eigenschaften wie Tief-, Hoch- oder Wendepunkte, ohne analytische Hilfsmittel bestimmt werden.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Ewald Bichler
Fach: Mathematics
Eine Funktion mit einem Parameter wird definiert und es werden analytisch die Koordinaten seiner Extrema in Abhängigkeit von diesem Parameter bestimmt.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Elisabeth Arnold
Fach: Mathematics
Nach der Eingabe einiger Daten können die beiden Lagemaße (arithmetischer) Mittelwert und Median unmittelbar visualisiert und verglichen werden.
Verlag: Texas Instruments Education Technology
Autor: Ewald Bichler
Fach: Mathematics